0.13微米工艺组件选择 | |||
标准工艺组件选择 | 0.13μm低漏电器件 (1.5V) |
0.13μm高性能通用器件 (1.2V) | |
核心器件 | 高阈值电压 | √ | |
标准阈值电压 | √ | √ | |
低阈值电压 | √ | ||
输入输出器件 | 2.5V | √ | |
3.3V | √ | √ | |
内存 (缩小之前) |
单端静态内存 (2.43μm2) |
√ | √ |
单端静态内存 (2.14μm2) |
√ | √ | |
单端静态内存 (2.03μm2) |
√ |
0.11微米工艺组件选择 | |||
标准工艺组件选择 | 0.11μm低漏电器件 (1.2V) |
0.11μm高性能通用器件 (1.2V) | |
核心器件 | 高阈值电压 | √ | |
标准阈值电压 | √ | ||
低阈值电压 | √ | ||
输入输出器件 | 2.5V | √ | |
3.3V | √ | ||
内存 (缩小之前) |
单端静态内存 (2.43μm2) |
√ | |
单端静态内存 (2.14μm2) |
|||
单端静态内存 (2.03μm2) |
√ |
90纳米工艺组件选择 | |||
标准工艺组件选择 | 90 nm低漏电器件 (1.2V) |
90 nm高性能通用器件 (1.0V) | |
核心器件 | 高阈值电压 | √ | √ |
标准阈值电压 | √ | √ | |
低阈值电压 | √ | √ | |
输入输出器件 | 1.8V | √ | √ |
2.5V | √ | √ | |
2.5V 过载 3.3V | √ | √ | |
3.3V | √ | √ | |
内存 (缩小之前) |
单端静态内存 (0.999μm2) |
√ | √ |
双端静态内存 (1.994μm2) |
√ | √ |
65纳米工艺元件选择 | |||
标准工艺元件选择 | 65nm低漏电器件 (1.2V) |
65nm高性能通用器件 (1.0V) | |
核心器件 | 高阈值电压 | √ | √ |
标准阈值电压 | √ | √ | |
低阈值电压 | √ | √ | |
输入输出器件 | 1.8V | √ | √ |
2.5V | √ | √ | |
2.5V 超载 3.3V | √ | √ | |
2.5V 低载 1.8V | √ | √ | |
3.3V | √ | √ | |
内存 | 单端高密度静态内存 (0.525μm2) |
√ | √ |
单端高性能静态内存 (0.620μm2) |
√ | √ | |
双端高密度静态内存 (0.974μm2) |
√ | √ | |
双端高性能静态内存 (1.158μm2) |
√ | √ |
55纳米工艺组件选择 | |||
标准工艺组件选择 | 55 nm低漏电器件 (1.2V) |
55 nm高性能通用器件 (1.0V) | |
核心器件 | HVt | √ | √ |
SVt | √ | √ | |
LVt | √ | √ | |
输入输出器件 | 1.8V | √ | √ |
2.5V | √ | √ | |
2.5V 超载 3.3V | √ | √ | |
2.5V 低载 1.8V | √ | √ | |
3.3V | √ | √ | |
内存 | 单端高密度静态内存 (0.425μm2) |
√ | √ |
单端高性能静态内存 (0.502μm2) |
√ | √ | |
双端高密度静态内存 (0.789μm2) |
√ | √ | |
双端高性能静态内存 (0.938μm2) |
√ | √ |
40纳米工艺组件选择 | ||
标准工艺组件选择 | 40nm低漏电器件 (1.1V) | |
核心器件 | 高阈值电压 | √ |
标准阈值电压 | √ | |
低阈值电压 | √ | |
输入输出器件 | 1.8V | √ |
2.5V | √ | |
2.5V 超载 3.3V | √ | |
2.5V 低载 1.8V | √ | |
内存 | 单端高密度静态存储器 (0.242μm2) |
√ |
单端高性能静态存储器 (0.303μm2) |
√ | |
双端高密度静态存储器 (0.477μm2) |
√ | |
双端高性能静态存储器 (0.600μm2) |
√ |