III-V 特殊工艺
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0.25μm:  中芯的0.25微米技术能实现芯片的高性能和低功率,适用于高端图形处理器、微处理器、通讯及计算机数据处理芯片。 我们同时提供0.25微米逻辑电路和3.3V和5V应用的混合信号/CMOS射频电路
特点:
1. 输入输出接口 :2.5V、3.3V或5V
2. 1P5M(铝)制程
3. 浅沟隔离
4. 混合信号:深 N-井技术,多种Vt MOSFET,高电阻多晶硅,MiM电容器,厚金属电感器


0.18μm:中芯的0.18微米为消费性、通讯和计算机等多种产品应用提供了在速度、功耗、密度及成本方面的最佳选择。此外,它也在嵌入式内存、混合信号及CMOS射频电路等应用方面为客户提供灵活性的解决方案及模拟。
  此工艺采用 1P6M(铝)制程,特点是每平方毫米的多晶硅门电路集成度高达 100,000 门以及有 1.8V、3.3V 和 5V 三种不同电压,供客户选择。
  中芯国际在 0.18 微米技术节点上可提供低成本、经验证的智能卡、消费电子产品以及其它广泛的应用类产品。我们的 0.18 微米工艺技术包括逻辑、混合信号 / 射频、高压、电可擦除只读存储器以及一次可编程技术等。这些技术均有广泛的单元库和智能模块支持。
嵌入式高密度内存
  为满足客户在SoC设计中对内存的要求,中芯与正一科技(MoSys)一起为客户提供0.18微米的1T静态内存。此技术可实现与同制程6T静态内存相似的性能及两倍于同制程DDR动态内存的性能, 并能提高常规6T静态内存存储密度达100%。另外,若和传统的静态内存技术相比较,它可以降低四倍功耗,因而成为SoC设计中最理想的嵌入式高密度内存。
特点:
1. 核心组件 :标准制程(G)、或低漏电(LL)
2. 输入输出接口 :3.3V 或 5V
3. 1P6M(铝)制程
4. 混合信号 :深 N-井技术,多种Vt MOSFET,高电阻多晶硅,MiM电容器,厚金属电感器



0.13μm/0.11μm:和0.15微米器件的制程技术相比,中芯的0.13微米工艺能使芯片面积缩小25%以上,性能提高约30%。与0.18微米制程技术比较,芯片面积更可缩小超过50%,而其性能也提高超过50%。
  中芯的0.13微米制程采用全铜制程技术,从而在达到高性能设备的同时,实现成本的优化。中芯的 0.13 微米技术工艺使用 8 层金属层宽度仅为 80 纳米的门电路,能够制作核心电压为 1.2V 以及输入 / 输出电压为 2.5V 或 3.3V的组件。我们的高速、低电压和低漏电制程产品已在广泛生产中。
  我们通过标准单元库供应伙伴,提供0.13微米的单元库,内存编译器,输入输出接口和智能模块的讯。
特点:
1. 输入输出接口 :2.5V或3.3V
2. 1P8M,Cu 和 FSG 工艺
3. 混合信号 :深 N-井技术, 多种Vt MOSFET, 高电阻多晶硅,MiM 电容器,厚金属电感器
0.13微米工艺组件选择
标准工艺组件选择 0.13μm低漏电器件
(1.5V)
0.13μm高性能通用器件
(1.2V)
核心器件 高阈值电压
标准阈值电压
低阈值电压
输入输出器件 2.5V
3.3V
内存
(缩小之前)
单端静态内存
(2.43μm2)
单端静态内存
(2.14μm2)
单端静态内存
(2.03μm2)

0.11微米工艺组件选择
标准工艺组件选择 0.11μm低漏电器件
(1.2V)
0.11μm高性能通用器件
(1.2V)
核心器件 高阈值电压
标准阈值电压
低阈值电压
输入输出器件 2.5V
3.3V
内存
(缩小之前)
单端静态内存
(2.43μm2)
单端静态内存
(2.14μm2)
单端静态内存
(2.03μm2)




90nm:中芯国际的300毫米晶圆厂已有多个90纳米工艺的产品进入大规模的生产,中芯国际拥有丰富的制程开发经验,可向全球客户提供先进的90纳米技术。中芯90纳米制程采用Low-k材质的铜互连技术,生产高性能的元器件。利用先进的12英寸生产线进行90纳米工艺的生产能确保成本的优化,为客户未来技术的提升提供附加的资源。同时,中芯90纳米技术可以满足多种应用产品如无线电话,数字电视,机顶盒,移动电视,个人多媒体产品,无线网络接入及个人计算机应用芯片等对低能耗,卓越性能及高集成度的要求,此外,我们的90纳米技术可以为客户量身定做, 达到各种设计要求,包括高速,低耗,混合信号,射频以及嵌入式和系统集成等方案。
  在90纳米技术上,中芯向客户提供生产优化的方案,以期竭尽所能地为客户产品的性能的提升,良率的改善和可靠性的保证提供帮助。对于90纳米相关的单元库,IP及输入/输出接口等可通过我司的合作伙伴获得。
  我们通过标准单元库供应伙伴,提供0.13微米的单元库,内存编译器,输入输出接口和智能模块的讯。
特点:
1. 核心组件电压:1.0V 到 1.2V
2. 多样化的MOS组件开启电压
3. 输入/输出电压:1.8V, 2.5V 或3.3V
4. 1P9M,采用Low-k电介质材料(3.0)的铜互连工艺
5. 混合信号/射频:深N井技术,多种电压的MOSFET器件,高电阻多晶硅,MIM电容器,厚金属感应器,变容二极管,CMOS射频器件
90纳米工艺组件选择
标准工艺组件选择 90 nm低漏电器件
(1.2V)
90 nm高性能通用器件
(1.0V)
核心器件 高阈值电压
标准阈值电压
低阈值电压
输入输出器件 1.8V
2.5V
2.5V 过载 3.3V
3.3V
内存
(缩小之前)
单端静态内存
(0.999μm2)
双端静态内存
(1.994μm2)




65nm/55nm:中芯65和55纳米逻辑技术具有高性能,节能的优势,并实现先进技术成本的优化及设计成功的可能性。 此65和55纳米技术的工艺元件选择包含低漏电和高性能通用器件的平台。此两种技术平台都提供三种阈值电压的元件以及输入 / 输出电压为1.8V 或 2.5V的元件,而型成一個彈性的製程設計平台。此技术的设计规则,规格及SPICE模型已完备。65纳米重要的单元库已完备,55纳米低漏电技术的标准单元库正在开发中。
特点:
1. 核心元件电压:1.0V 到 1.2V
2. 输入/输出电压:1.8V 或 2.5V
3. 低 k介质(3.0)和 Cu的后端互连集成技术
4. 镍化硅制程
65纳米工艺元件选择
标准工艺元件选择 65nm低漏电器件
(1.2V)
65nm高性能通用器件
(1.0V)
核心器件 高阈值电压
标准阈值电压
低阈值电压
输入输出器件 1.8V
2.5V
2.5V 超载 3.3V
2.5V 低载 1.8V
3.3V
内存 单端高密度静态内存
(0.525μm2)
单端高性能静态内存
(0.620μm2)
双端高密度静态内存
(0.974μm2)
双端高性能静态内存
(1.158μm2)

55纳米工艺组件选择
标准工艺组件选择 55 nm低漏电器件
(1.2V)
55 nm高性能通用器件
(1.0V)
核心器件 HVt
SVt
LVt
输入输出器件 1.8V
2.5V
2.5V 超载 3.3V
2.5V 低载 1.8V
3.3V
内存 单端高密度静态内存
(0.425μm2)
单端高性能静态内存
(0.502μm2)
双端高密度静态内存
(0.789μm2)
双端高性能静态内存
(0.938μm2)




40nm:中芯国际是中国大陆第一家提供40纳米技术的晶圆厂。40纳米标准逻辑制程提供低功耗(LL)器件平台,核心组件电压1.1V,涵盖三种不同阈值电压,以及输入/输出组件 1.8V、2.5V和3.3V电压以满足不同的设计要求。40纳米逻辑制程结合了最先进的浸入式光刻技术,应力技术,超浅结技术以及超低介电常数介质。此技术实现了高性能和低功耗的完美融合,适用于所有高性能和低功率的应用,如手机基带及应用处理器,平板电脑多媒体应用处理器,高清晰视频处理器以及其它消费和通信设备芯片。
特点:
1. 核心组件电压:1.1V (LL)
2. 具三种不同阈值电压的核心组件易于设计优化
3. 输入/输出组件电压:1.8V、2.5V和3.3V
4. 单埠及双端口SRAM存储单元,并提供内存编译器
5. 关键层的193纳米浸润式微影技术
6. 提高迁移率的应力技术
7. 形成超浅接的毫秒级退火
8. 1P10M,采用Low-k超低电介质材料(2.7)的铜互连工艺
9. 焊线及覆晶选项
40纳米工艺组件选择
标准工艺组件选择 40nm低漏电器件
(1.1V)
核心器件 高阈值电压
标准阈值电压
低阈值电压
输入输出器件 1.8V
2.5V
2.5V 超载 3.3V
2.5V 低载 1.8V
内存 单端高密度静态存储器
(0.242μm2)
单端高性能静态存储器
(0.303μm2)
双端高密度静态存储器
(0.477μm2)
双端高性能静态存储器
(0.600μm2)